Laboratoire

CERMA

Département

Département de chimie

Organisme(s) subventionnaire(s) :

Conseil de recherches en sciences naturelles et en génie du Canada (CRSNG) – Programme de subvention d’outils et d’instruments de recherche (OIR)

Fournisseur (modèle)

Asylum Research – MFP-3D Origin

Mise en fonction

2019

Description de l’équipement

La microscopie à force atomique (AFM) est une technique qui permet de déterminer la morphologie des surfaces avec une résolution de l’ordre de la dimension des atomes. Il s’agit d’une technique d’imagerie de surface très utilisée en raison de sa haute résolution et de la diversité des matériaux qu’elle peut cartographier. En plus de renseigner sur la topographie de surface, l’AFM permet de mesurer la rugosité et donne aussi une information qualitative sur la viscoélasticité de surfaces hétérogènes. Le logiciel d’analyse et de présentation des images de l’appareil permet de mesurer et de présenter les résultats des recherches incluant : l’analyse en coupe transversale, la mesure de la rugosité, l’analyse des profondeurs, l’analyse par histogrammes.

Caractéristiques spécifiques

• Scanner
  • Plage de balayage X-Y minimale 120 µm x 120 µm
  • Plage de balayage Z >15 µm
• Porte-échantillon permettant la mesure d’échantillon de grande taille
• Modes d’imagerie standards
  • Mode contact;
  • Mode impulsion (tapping) (y compris image de phase);
  • Imagerie du potentiel de surface (SKPM);
  • Microscopie à effet tunnel (STM);
  • Imagerie AFM conductrice
• Autres modes
  • Spectroscopie force/distance;
  • Spectroscopie courant/voltage;
  • Nanolithographie;
  • Nanomanipulations

Champs d’application de l’appareil

• Topographie de surfaces, mesures de forces

Conditions d’utilisations

Ce service peut être offert aux collaborateurs académiques et industriels. Cette technique nécessite la présence d’un professionnel de recherche pour faire l’analyse.