Laboratoire

Centre de recherche sur les matériaux avancés (CERMA)

Département

Département de chimie

Organisme(s) subventionnaire(s)

Conseil de recherches en sciences naturelles et en génie du Canada (CRSNG)

Fournisseur (modèle)

Digital Instruments Veeco (Nanoscope IIIa)

Mise en fonction

2005

Description de l’équipement

La microscopie à force atomique (AFM) est une technique qui permet de déterminer la morphologie des surfaces avec une résolution de l’ordre de la dimension des atomes. La microscopie AFM est une technique d’imagerie de surface très utilisée en raison de sa haute résolution et de la diversité des matériaux qu’elle peut cartographier. En plus de renseigner sur la topographie de surface, l’AFM permet de mesurer la rugosité et donne aussi une information qualitative sur la viscoélasticité de surfaces hétérogènes. Le logiciel d’analyse et de présentation des images de l’appareil multimode contient des algorithmes puissants qui permettent de mesurer et de présenter les résultats des recherches incluant : l’analyse en coupe transversale, la mesure de la rugosité, l’analyse des profondeurs, l’analyse par histogrammes

Caractéristiques spécifiques

• 2 modes d’analyse: contact ou « tapping »
• Plages de balayage : plan X-Y : 120 µm
• Plages de balayage : direction Z : 5 µm
• Résolution en profondeur: 0,01 nm
• Résolution latérale : 0,1 nm

Champs d’expertise de l’appareil

• Topographie de surface
• Rugosité
• Cartographie de surface

Conditions d’utilisations

Ce service est offert en location avec assistance d’un professionnel de recherche. Il est disponible pour les collaborateurs académiques et industriels, selon le volume d’utilisateurs.