Vous souhaitez visualiser vos nanomatériaux ? Que vous soyez une entreprise privée ou un organisme public, notre nouveau service de microscopie électronique à balayage est disponible pour vous. Un nouvel appareil, un Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope (FIB-SEM) CROSSBEAM 540 s’ajoute à notre liste afin de vous offrir un service adapté à vos besoins. Voici quelques caractéristiques de nos SEM:
– Résolution sous-nanométrique
– Analyse élémentaire de haute précision (EDS)
– Service de préparation des échantillons disponible
– Accompagnement lors de l’élaboration de votre protocole
– Et bien d’autres
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